导通电阻测试系统 HAST高加速老化试验箱
产品简介
详细信息
（售价以实际为准）
导通电阻测试系统 HAST高加速老化试验箱
主要特点：
l 高精度测量；
l 电阻测量范围广、精度高；
l 测试电流3A、5A、15A，可以在同一环境条件下根据不同阻值样品输出不同电流值
l 通道数多、可分组，每组测试条件可以独立设置，可同时进行多组不同条件的测试；
l 可通过计算机进行实时测定，可在测定过程中编辑、浏览数据；
l 具备通讯功能，可接入实验室管理平台、ERP等系统；
l 具备远程维护功能；
l 可与HAST环境试验进行联动试验。通过与HAST环境试验箱联动，可进行温湿度监测、警报监测等；
导通电阻测试系统 HAST高加速老化试验箱
主要用途
●印刷电路板通孔导通评估
●焊料连接性评估
●BGA、CSP焊料连接性评估
●连接器接触电阻评估
●FPC耐用性评估
●开关、继电器等各种接触电阻评估
●片式电容接合可靠性评估
●不同金属接合部分评估
●导电胶、各向异性导电膜(ACF)接合性评估
●各种连接材料的连接性评估
适用标准
●IPC-9701A
●IPC-TM-650_2.6.7A
●IPC-TM-650_2.6.7.2B
导通电阻测试系统可与zonglen HAST高加速老化试验箱配合使用，主要用于产品导通电阻性能验证。更好的保证您PCB检测的精度和可靠性。