（售价以实际为准）

高低温冲击搭配液晶显示屏测量系统试验

ThermoTST高低温冲击热流仪, 兼容各品牌光学检测设备, 提供显示行业 LCD, LCM, TV, monitor, OLED 器件, OLED 模组, Micro LED, Mini LED, 车载显示, LED Light Bar, 背光模组等器件在高低温环境下的光学性能测试。

高低温冲击搭配液晶显示屏测量系统试验

高低温环境下 OLED 器件光学性能测试系统

热流仪TS580B与德国Instrument Systems DMS 液晶显示屏测量系统（原AUTRONIC-MELCHERS）联用进行 LED 高低温环境测试. 每个 DMS 系统都可以扩展一个适当的冷热系统, 以进行 LED 光学显示特性和一致性测试的温度相关测量。

使用热流仪TS580B的优势：

通讯接口：RS-232，LAN；可选：GPIB，可连接光学测量系统 GPIB (IEEE-488) 直接控制
集成方便：TS580B输气软管可直接与光学测量系统测试腔体连接
温度范围广：-80℃ 至 +225 °C  

程序模式控制：根据不同温度环境测试需求, 可设置 0-20 组温度循环冲击测试
温度变化速率快：- 55°C 至 +125°C 约 10 s
输出气流量： 4 ~ 18 scfm（1.9L/s~8.5L/s）

ZONGLEN 热流仪可兼容市面上各品牌光学检测设备，完成再电高低温环境下的光学性能测试，是光学检测设备的组成之一，并持续稳定运行, 故障率极低，为晶圆、芯片、光通信、汽车电子、激光、集成电路、航空航天、天文探测、电池包、氢能源、移动储能等领域的制造和测试过程中提供整套温度环境解决方案。

ThermoTST TS580B是一台精密的高低温冲击气流仪，温度范围-80°C到+225°℃，温度转换测试能力强。温度转换从-55°C到+125℃之间转换约10秒；经长期的多工况验证，满足各类生产环境和工程环境的要求。TS580是纯机械制冷，不用液氮或其它消耗性制冷剂。提供适用于 RF 射频, 微波, 电子, 功率器件, 通信芯片等温度测试, 满足芯片特性和故障分析的需求.