易发生变形金属的磨抛制备——半自动磨抛
在金相检测及材料分析领域，在样品的制备过程中，经常会遇到一些特别容易发生变形/流变的金属，例如：纯铝（部分低硬度铝合金）、纯铜（部分低硬度铜合金）、贵重金属（金、银等）、低熔点金属（锡、铅）、难熔金属（钛、铬、钼等）、高温合金等，这类金属样品的制备需要花费大量的时间，制备完成后是否能满足测试、分析要求也一直是金相工程师或技术人员棘手的问题。
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功能多样，精确性高 — 满足您*的表面测量需求
• 通过高清（HD） 共聚焦显微技术实现横向分辨率、斜率求解和成像
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• 通过明场和暗场显微镜方便地实现图像摄取
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• 可使用三种方法测量厚薄不同的薄膜
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省时省力，节省资金，实现结果
• 无需准备样品或切换仪器
• 数字高清共聚焦扫描快速、可靠
• 通过大视场和形貌拼接快速摄取大表面
• 直观的 2D 和 3D 软件，适用于数据采集和分析
在金相检测及材料分析领域，在样品的制备过程中，经常会遇到一些特别容易发生变形/流变的金属，例如：纯铝（部分低硬度铝合金）、纯铜（部分低硬度铜合金）、贵重金属（金、银等）、低熔点金属（锡、铅）、难熔金属（钛、铬、钼等）、高温合金等，这类金属样品的制备需要花费大量的时间，制备完成后是否能满足测试、分析要求也一直是金相工程师或技术人员棘手的问题。
♦ ELITE （增强型锁相热发射显微镜）
*，锁相热发射显微镜如今已成为高等电性故障分析流程中*的技术手段。有缺陷的或表现不佳的半导体器件...
徕卡激光共聚焦显微镜DCM8用于无损三维表面轮廓形成,融合了共聚焦和干涉光学测量仪,用于高横向分辨率和干涉法的高清晰度共聚焦显微镜,可获得亚纳米级的垂直分辨率.在各种不同的研究和产品环境下,进行材料和零部件的表面分析都非常重要.由带有高坡区域的错综复杂的结构制成的表面,要求数微米的横向分辨率.