气体沉淀粒度测定仪测定金属粒度-金属研究显微镜

气体沉淀粒度测定仪

气体沉淀粒度测定仪是一种有时用来测定亚筛金属粉末粒度分
布的沉降天平仪，借氮气流将粉末试样抛起，悬浮在气体中的粉
末通过由锥形套筒组成的分离聚结装置，而进入沉降室，沉降室
由热绝缘的铝管组成，其内径为10cm，高度为2.5m称量落入粉末
重量的自动天平盘，装在沉降底部，记录仪记录沉降洽的累积重
量，累积重量是时间蝗函数，据此，按斯达克斯定律便可计算出
粉末粒度分布，这种仪器可以测量粉末粒度在2μm到100μm范围
内的粒度分布，这种方法的缺点是粉末有粘附在容器壁上的倾向
，而这种粘附对于所有粒度的粉末又不能保证是均匀一致的。

库尔特计数器和光度沉降粒度分析仪将这两种测定粒度和分布
的方法放在一起进行讨论，是因为它们都需要使颗粒悬浮在液体
中，并使悬浮物液体通过一个传感区，悬浮液要足够烯释以便颗
粒能够一个接一个地通过传感区，当颗粒通过传感区时，其粒度
便被测量了，这两种方法测量粒度的原理是很不相同的，悬浮液
体必须是导电的，粉末颗粒通过一个小孔，孔的每一面都有浸入
的电极，颗粒的通过，改变了通过两电极间的液体线路的电阻，
所引起的电压脉冲正比于被计数的颗粒的体积，而光度沉降粒度
分析仪中，传感区是石英卤素灯源产生的高强度平行光束，光束
在首先通过一个已知准确尺寸的方形玻璃窗口之后，再通过液体
，并射到光电探测器上，所引起的电流正比于光的振幅，当液体
中一个颗粒遮断光束时，到达光电测器的光量瞬间就要减少，减
少的量正比于颗粒的投影面积，所得到的电压脉冲就可被读出，
因此，这两种测定粒度分布的方法原理都是计算单个颗粒的电压
脉冲，这两种方法都需要校正，使颗粒通过时产生的电压脉冲高
度同粒度大小发生，这两种方法都使用一系列临界尺寸阀，
或脉冲鉴频器以便只计算那些大于某给定值的粉末颗粒大小的电
压脉冲，即所给出的电压脉冲值应与某给定尺寸的粉末颗粒相应
，当两个颗粒同时通过传感区时，由于原始读数的重叠，所以需
要校正，读数对每个临界尺寸都会重复，直到把粉末试样中的全
部粒度范围都包括进去，借助息处理机构将读出的颗粒数目
转换成颗粒体积，列成表格或表示成正比的大于某一粒度，或负
的小于某一粒度累积百分数曲线。
用这些粒度分析法对各种不同的粒度临界尺寸阀进行计数量，
有一个很重要的要求，这就是悬浮液的浓度不发生改变，特别是
不能沉淀出颗粒，或者是传感区不发生堵塞，这个要求不总是容
易满足，库尔特计数器用来测定金属粉末的粒度分布已经是若干
年了，粒度细至小于1微米都可以进行分析，在每次分析中，要
计算几十万个粉末颗粒，汇集数据就需要10至20分钟，根据光度
沉降原理的粒度分析法，只是近几个才应用于金属粉末。

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