MalinEdvardsson博士，主修物理专业，于2006年毕业于ChalmersUniversityofTechnology，此前她的研究主要集中在QCM-D技术方面。此后她也一直致力于QCM-D技术在世界范围内广泛应用。
 

　　测量纳克级别的质量变化的“天平”
 

　　石英晶体微天平或QCM，就像它的名字一样，本质上是一个用于称量非常小的质量变化的天平。它不像我们日常生活中所用的测量磅或公斤级别的那种天平。石英晶体微天平(QCM)和它家族的兄弟们，可用来测量纳克级的质量变化，它所测量的质量是实时的，一旦质量增加或下降，用户便可以捕捉到这一微小的变化。也就是说，QCM可以检测出表面上增加或减少的及其微小的质量变化。
 

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　　为什么要称量这么小的质量呢？
 

　　不同于厨房秤那种测量磅或公斤级质量的天平，QCM和它家族的兄弟们可以用来测量纳克级的质量。
 

　　那么问题是，为什么会有人想要测量某种材料纳克级的质量变化呢？我们每天都要使用的许多物品中，如智能手机触摸屏，都有非常薄的涂层，知道它们到底有多薄或多厚，才能保持功能是非常有必要的。此外，测量质量如何随时间变化，可以提供材料的某些非常有用的信息，例如眼泪中的蛋白质，能够随着时间的推移与隐形眼镜表面发生相互作用。QCM检测就可以针对这样的事实，当我们感兴趣的表面材料置于能够与其发生相互作用并终能够成功吸附在其表面的分子之中时，QCM检测的结果将是表面质量的增加。质量的变化便可以证实相互作用的发生。或者，如果没有检测到质量的增加，确认没有相互作用发生，即没有分子粘附在表面上。因此，QCM是一种通过监测表面质量的实时变化，从而定性和定量的研究分子和表面间相互作用的方法。