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X-ray膜厚测试仪_金东霖科技是一种专门应用于半导体材料、电子器件、微电子学、光通讯和数据储存工业中的金属薄膜厚度测量.
可靠地测量Pb, Hg, Cd, Br及Cr元素。在塑料中可达到的测量下限Pb为2ppm，对Cd为10ppm。
RoHS / WEEE对Pb的限制为1000 ppm以及对Cd为100 ppm，仪器能可靠地予以验证。
塑料样品可以不考虑其厚度而进行准确分析。
X-ray膜厚测试仪_金东霖科技主要特点：
1. *的稳定性和出色的精确度——对于金优于1‰——是 BA100的优势所在。
2. 由于不需要经常进行再校准，从而节省了使用者的时间、精力及经营成本。
3. 测量结果可以以Karat‰或重量%显示.并且可以按客户报表打印输出。
4. 使用安全而简单——无论是对经验丰富还是接受较少培训的员工都是如此。
5. 不需要为BA 100、特别设置一个实验室房间。
6. 为个人计算机而设计的测试软件。
7. *的软件有着的性能：完整、简单易用而且不需要补充模块或是软件升级。
