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X-ray膜厚仪_深圳金东霖仪器特点有:
★ zui多24种镀层(使用WinFTM? V.6软件)。
★ 分析多达4种(或24种-使用V.6软件)元素。
★ 分析电镀溶液中的金属离子浓度。
★ 贵金属检测,如Au karat评价。
★ 材料和合金元素分析,材料鉴别和分类检测 。
★ 液体样品分析,如镀液中的金属元素含量 。
★ 多达4个样品的光谱同时显示和比较。
★ 元素光谱定性分析,精度高、稳定性好。
★ 强大的数据统计、处理功能。
★ 测量范围宽,NIST认证的标准片,服务及支持。
★ 附带功能:合金成份分析,电镀液成份分析,中文简体、繁体、英文操作系统。
X-ray膜厚仪_深圳金东霖是一种专门应用于半导体材料、电子器件、微电子学、光通讯和数据储存工业中的金属薄膜厚度测量.
可靠地测量Pb, Hg, Cd, Br及Cr元素。在塑料中可达到的测量下限Pb为2ppm,对Cd为10ppm。
RoHS / WEEE对Pb的限制为1000 ppm以及对Cd为100 ppm,仪器能可靠地予以验证。
塑料样品可以不考虑其厚度而进行准确分析。