镀金线路板膜厚测试仪-深圳市金东霖科技有限公司手机版

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产品简介

镀金线路板膜厚测试仪符合标准DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨半导体接收器，配合快速信号处理系统能达到*的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟，所有从13号元素铝到92号元素镭的所有元素都能准确测定。

详细介绍

镀金线路板膜厚测试仪利用萤光X射线得到物质中的元素信息(组成和镀层厚度)的萤光X射线法原理。和萤光X射线分析装置一样被使用的X射线衍射装置是利用散乱X射线得到物质的结晶信息(构造)。而透过X射线多用于拍摄医学透视照片。另外也用于机场的货物检查。象这样根据想得到的物质信息而定X射线的种类。
X射线的能量穿过金属镀层的同时，金属元素其电子会反射其稳定的能量波谱。通过这样的原理，我们设计出：膜厚测试仪也可称为膜厚测量仪，又称金属涂镀层厚度测量仪，其不同之处为其即是薄膜厚度测试仪，也是薄膜表层金属元素分析仪，因响应环保工艺准则，故目前市场上zui普遍使用的都是无损薄膜X射线荧光镀层测厚仪。

镀金线路板膜厚测试仪可测量：单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等.
二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金.
三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金.
双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等.
双镀层：其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。