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X-ray膜厚测试仪_深圳金东霖
X-ray膜厚测试仪_深圳金东霖是一种专门应用于半导体材料、电子器件、微电子学、光通讯和数据储存工业中的金属薄膜厚度测量.
可靠地测量Pb, Hg, Cd, Br及Cr元素。在塑料中可达到的测量下限Pb为2ppm，对Cd为10ppm。
RoHS / WEEE对Pb的限制为1000 ppm以及对Cd为100 ppm，仪器能可靠地予以验证。
塑料样品可以不考虑其厚度而进行准确分析。 参考价面议 -
X-ray膜厚仪_深圳金东霖
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X-ray膜厚仪_金东霖科技
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X-ray膜厚测试仪_金东霖科技
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X-ray膜厚测试仪_金东霖
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X-ray膜厚测试仪
X-ray膜厚测试仪是一种专门应用于半导体材料、电子器件、微电子学、光通讯和数据储存工业中的金属薄膜厚度测量.
可靠地测量Pb, Hg, Cd, Br及Cr元素。在塑料中可达到的测量下限Pb为2ppm，对Cd为10ppm。
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台式半导体膜厚测试仪
台式半导体膜厚测试仪符合标准DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨半导体接收器，配合快速信号处理系统能达到*的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟，所有从13号元素铝到92号元素镭的所有元素都能准确测定。 参考价面议 -
膜厚测试仪 bowman博曼
膜厚测试仪 bowman博曼符合标准DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨半导体接收器，配合快速信号处理系统能达到*的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟，所有从13号元素铝到92号元素镭的所有元素都能准确测定。 参考价面议 -
膜厚测试仪 博曼（BA100）
膜厚测试仪 博曼（BA100) 符合标准DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨半导体接收器，配合快速信号处理系统能达到*的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟，所有从13号元素铝到92号元素镭的所有元素都能准确测定。 参考价面议 -
美国台式膜厚仪
美国台式膜厚仪符合标准DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨半导体接收器，配合快速信号处理系统能达到*的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟，所有从13号元素铝到92号元素镭的所有元素都能准确测定。 参考价面议 -
美国台式膜厚测试仪
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台式镀金膜厚测试仪
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